普通磨料粒度检测方法

普通磨料粒度检测方法

1、术语

1.1 对于粒度为F12~F150的磨料：

Zui粗粒：第一层筛网筛上物。

粗粒：第二层筛网筛上物。

基本粒:第三层筛网筛上物。

混合粒：第三层和第四层筛网筛上物。

细粒：第五层筛网的筛下物，即底盘中的磨料。

1.2 对于粒度为F180和F220的磨料：

Zui粗粒：第一层筛网筛上物。

粗粒：第二层筛网筛上物。

基本粒:第四层筛网筛上物。

混合粒：第四层和第五层筛网筛上物。

细粒：底盘中的磨料。

2、测试条件

2.1 环境温度：室温

2.2 设备

振筛机：φ200型振筛机，转速290r/min，拍击次数156次/min，拍击高度38mm。整套筛可自由旋转。

试验筛：符合GB/T6003.1，筛框尺寸φ200×50mm，经标准砂校准合格。筛网需要定期送到专业计量检测机构校准。如果筛网不合格须及时更换，保证检测结果准确可靠。

天平：0.1g

标准砂：全国磨料磨具标准化委员会制作的F标准砂。

3、测试过程

3.1 试样制备

按照GB/T 4676，抽取有统计代表性的待检试样100g，试样置于105℃中干燥至恒重。

3.2 测定步骤

根据待检试样选择筛网，详见GB/T 2481.1-1998,筛孔尺寸从上至下依次变小。Zui底层放底盘，Zui上层放筛盖。将待检试样倒入Zui上层筛网，盖上筛盖。将整套筛网放到振筛机上。

振筛机计时器设为5分钟，筛分完成后，依次称量每层筛网上的累计质量。如果筛分后的总质量小于99.0g，须重新检测。

4、测量结果及分析

由于试验筛和筛分条件的差异，筛分结果会有较大偏差，须使用标准砂对筛分值进行校正，得到准确的检测结果。同一试验应检测两次，校正后的检测结果取平均值为Zui终检测结果。

校正按照以下程序进行：

把正态概率纸纵轴定为粒度组成累计百分比，将粗粒、基本粒、混合粒对应筛网的基本尺寸，间隔20个小格，分别画纵轴的平行线于横轴上，称之为基本尺寸线。F150、F180和F220，粗粒和基本粒的基本尺寸线间隔40小格。

将标准砂的基准值在对应的基本尺寸线上面描点，用直线将这三个点连接起来，称为标准砂的基准线。

用待校正的筛网按照3.2的测定步骤进行筛分，将筛分得到的累计百分比在标准砂基准线上标出，通过这些点分别画纵轴的平行线，这些线称为各层试验筛的网孔实效尺寸线。如果实效尺寸线偏离基本尺寸线7格以上，则应重新购买试验筛。

将待测试样的累计百分比在实效尺寸线上标出，将相邻两点分别连成直线，这些线称为试样测定线。

试验测定线与基本尺寸线的交点纵坐标即为校正后的累计百分含量。由此计算出各粒群的粒度组成即为待检试样的粗粒、基本力和混合粒的检测结果。